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基于OCT成像技术对常见陶瓷文物断面结构的无损分析
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  • 【作者】：董俊卿;李青会;严鑫;

  • 【机构】：中国科学院上海光学精密机械研究所科技考古中心;

  • 【关键词】：光学相干层析(OCT);;陶瓷文物;;断面结构;;无损分析

  • 【中文刊名】：自然杂志

  • 【发表时间】：2015-10-25

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