汝瓷成分的线扫描分析
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【作者】：朱剑,毛振伟,杨益民,冯敏,王昌燧,孙新民,郭木森,黄宇营,何伟
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【机构】：中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,河南省文物考古研究所,河南省文物考古研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所 合肥230026
,合肥230026
,合肥230026
,合肥230026
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,郑州450000
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,北京100039
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【关键词】：SRXRF;;汝瓷;;线扫描分析;;中间层
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【中文刊名】：核技术
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【发表时间】：2002-10-10
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