宣德官窑青花瓷的面扫描分析
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【作者】:杨益民,冯敏,朱剑,毛振伟,王昌燧,黄宇营,何伟
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【机构】:中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所 安徽合肥230026
,安徽合肥230026
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,北京100039
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【关键词】:青花瓷;;SRXRF;;面扫描;;无损检测
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【中文刊名】:光谱学与光谱分析
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【发表时间】:2004-08-30